Сверхвысокое разрешение. Неразрушающая 3D-визуализация.
Революционная система UltraXRM-L200 объединяет лабораторный источник рентгеновского излучения с высокой плотностью потока и запатентованную систему рентгеновской оптики, что дает возможность в лабораторных условиях использовать микроскоп в качестве сканера для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения. Неразрушающая визуализация с использованием рентгеновских лучей позволяет получать подробные трехмерные изображения внутренней структуры исследуемых объектов без необходимости в их резке или приготовлении срезов. Система UltraXRM-L200 позволяет получить представление о микроструктурах и микропроцессах с разрешением 50 нм, что ранее было не доступно с помощью обычных рентгеновских технологий.
Использование рентгеновского излучения с энергией 8 кэВ позволяет UltraXRM-L200 исследовать текстуры и материалы в их естественном состоянии. Интегрированная технология фазового контраста, основанная на методе Цернике, повышает различимость границ зерен и границ раздела материалов при относительно низком контрасте показателей поглощения.